Les moyens de caractérisations avancées regroupent tous les diagnostiques nécessaire pour comprendre le comportement des matériaux de l’échelle atomique (liasions chimiques, structures locales ou ordre cristallin) aux propriétés macroscopiques (conductivité thermiques, transmission optique, indice optique non linéaire ) statiques ou dynamiques (par exemple les experiences résolues en temps). Les principaux diagnostiques qui peuvent ếtre cités :
- diffraction par rayons X et neutron,
- microscopies électronique et optique
- spectroscopies divers : Raman, de photo-électrons (UPS, XPS, ARPES), d’absorption X (XANES, EXAFS), de fluoresence …
A ces diagnostiques s’ajoutent la caractérisation des différentes propriétés intéressantes dans le cadre d’applications spécifiques : rendement de thermoélectricité, de stabilité thermique pour les mémoires embarquées, de conductivité pour les applications énergies/battérie, de propriétés optiques pour les composants optiques (fibres, lentilles etc.).
Il existe aussi des diagnostiques tournés vers des études plus fondamentales pour comprendre les caractéstiques de nouveaux matériaux : études résolues en temps sur des échelles très longues (mois dans le cadre des études de vieillissement) ou très courtes (femtosecondes/attosecondes pour a dynamique de spin/des transitions de phases etc.)